
GIST, 공기 수준 낮은 유전율 갖고 전기·유전적 파괴 스스로 회복되는 캐퍼시터 개발
GIST(지스트, 총장 김기선) 신소재공학부 김봉중 교수와 캘리포니아 공대 줄리아 그리어(Julia R. Greer) 교수 공동연구팀이 유전율이 공기 수준으로 낮으며, 압축변형시 절연파괴 강도(dielectric breakdown strength)와 초저유전 절연체(Ultra low-k dielectric) 특성이 안정적으로 유지되고, 파괴가 일어나더라도 응력 제거시 스스로 회복되는 3차원-나노라티스(3D-nanolattice) 캐퍼시터를 세계 최초로 구현하였다. 절연파괴 강도(Dielectric breakdown strength)는 전기적